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Materiale didattico

Attenzione: questa scheda si riferisce all'insegnamento tenuto nell'autunno del 2019 per il corso di laurea magistrale in Elettronica. Il materiale didattico per gli studenti iscritti al 3o anno della laurea triennale in Ingegneria Elettronica e Informatica è diverso e si trova nella pagina di quel corso.

 

I libri di testo adottati per il corso sono:

 

J.M. Rabaey, A. Chandrakasan, B. Nikolic; Digital Integrated Circuits; Prentice Hall, 2nd edition, 2003; disponibile anche in italiano (Circuiti Integrati Digitali; Pearson - Prentice Hall, 2005)

R. Micheloni, L. Crippa, A. Marelli; Inside NAND Flash Memories; Springler-Verlag, 2010

R. Micheloni, A. Marelli, K. Eshghi; Inside Solid-State Drives (SSDs); Springler-Verlag, 2012

 

Sono disponibili anche le copie dei lucidi utilizzati a lezione. La data accanto a ciascun file si riferisce alla data dell'ultima modifica. L'indicazione "NEW" si riferisce ai files che sono stati modificati dopo l'inizio delle lezioni.

Per chi non avesse seguito le lezioni o preso appunti durante le lezioni conviene scaricare i file 2bis, 3 bis , 10bis e 13bis al posto dei file 2, 3, 10 e 11 (accorpati nel 10bis) 12 e 13 in quanto le diapositive, aggiornate durante il corso, sono più chiare.

Non tutto quanto presente sui file 13 (BIST) e 14 (Boundary Scan) è stato svolto a lezione. Nelle nuove versioni di questi 2 file le diapositive da saltare sono barrate con una riga rossa

 

Lucidi a.a. 19-20. Ultima modifica: 17.12.2019

 

  1. Logiche Combinatorie (2019_10_09) NEW

  2. Circuiti Sequenziali (2017_08_29)
  3. Temporizzazione (2019_08_29)
  4. Datapath (2019_08_25)
  5. Complementi memorie (2015_08_29)
  6. NOR Flash (2019_08_22)
  7. NAND Flash (2019_09_02)
  8. NAND multilivello (2019_09_04)
  9. NAND Memory systems (2014_10_08)
  10. IC testing (2015_08_25)
  11. ATPG per circuiti combinatori (2016_09_16)
  12. Design for Testability (2015_09_09)
  13. Built-In Self Test (2019_12_05) NEW
  14. Boundary Scan Test (2019_12_05) NEW
  15. Collaudo NAND Flash (2015_09_15)
  16. SSD: performance and reliability (2017_11_30)

2 bis. Circuiti sequenziali per laurea triennale (2019_10_09)

3 bis. Temporizzazione per laurea triennale (2019_11_09)

10 bis. IC testing e ATPG per la laurea triennale (2019_12_11)

12 bis DFT per la laurea triennale (2019_12_17)

13 bis. BIST per la laurea triennale (2019_12_13)