prova 14 sett

                MICROSCOPIA ELETTRONICA A SCANSIONE

                            Microscopio elettronico a scansione

                                            SEM Zeiss EVO 40

sorgente:LaB6 tensione di accelerazione massima : 30kV rivelatore di elettroni emessi in presenza di gas spettrometro a dispersione di energia ( EDS )per microanalisi a raggi X possibilità di operare sia convezionalmente in alto vuoto che a pressione variabile ( SEM XVP ); pressione massima 6 torr

Informazioni ottenibili : morfologia o topografia superficiale a partire dallo zoom di aree molto grandi ( un mm di lato ) fino a dimensioni sub-micrometriche.Identificazione degli elementi chimici presenti in aree selezionate dall'utente e in particelle di dimensioni non inferiori al micron; analisi quantitativa anche di elementi con n° atomoco inferiore a 10; mappe composizionali. 

Campioni: oltre ai materiali conduttivi , si possono osservare , senza deposizione di film metallico necessario per il SEM convenzionale, anche campioni isolanti , ad es. pezzi inglobati in resina , ceramiche, carta, polimeri, polveri ambientali, frammenti vegetali, tessuti animali fissati e disidratati.

                MICROSCOPIA ELETTRONICA A TRASMISSIONE

                         Microscopio elettronico a trasmissione

                                              Hitachi H 800                                               

sorgente al tungsteno tensione di accelerazione massima: 200 kV porta campioni sia a tilt singolo che a doppio tilt immagini su lastra fotografica

                           Microscopio elettronico a trasmissione

                                        TEM Zeiss EM 910

sorgente al tungsteno tensione di accelerazione massima : 120 kV illuminazione Kohler, sistema AIS immagini digitali

Informazioni ottenibili: osservazione ultrastrutturale di preparati biologici, morfologia di nano particelle, analisi strutturale di zone difettive in materiali cristallini.

Campioni : sezioni ultrasottili di preparati biologici, polveri, films depositati, frammenti metallici assottigliati, cross section.

                   MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA

         Microscopio a forza atomica Nanoscope III Digital Instruments

punte di nitruro di silicio ricoperto d'oro per operare in contatto scan size massimo : 100 micron possibilità di operare anche in tapping TM  modulo phase extender e punte per microscopia a forza magnetica testa per microscopia a effetto tunnel

 Informazioni ottenibili: topografia superficialefino a livello nanometrico, dimensioni dei particolari anche nella direzione verticale al piano del campione ( section analysis ), analisi di rugosità, spettro di Fourier, presenza di domini magnetici di dimensioni submicrometriche ( in MFM ) in abbinamento alla topografia dell'area scandita.

Campioni : principalmente film depositati, metalli, polimeri, plastiche,ceramiche, nastri magnetici, preparati istologici essicati, frammenti vegetali.

	Microscopio Elettronico a Scansione SEM Zeiss Evo 40 sorgente : LaB6 tensione di accelerazione massima : 30kV rivelatore di elettroni emessi in presenza di gas spettrometro a dispersione di energia ( EDS ) per microanalisi a raggi X possibilità di operare sia convezionalmente in alto vuoto che a pressione variabile ( SEM XVP ); pressione massima 6 torr
	Microscopio Elettronico a Trasmissione TEM Hitachi H800 sorgente al tungsteno tensione di accelerazione fino a 200 kV porta-campioni sia a tilt singolo che a doppio tilt immagini su lastra fotografica
	Microscopio Elettronico a Trasmissione TEM Zeiss EM 910 sorgente al tungsteno tensione di accelerazione fino a 120 kV illuminazione Köhler, sistema AIS
	Microscopio a Forza Atomica AFM. punte di nitruro di silicio ricoperto d'oro per operare in contatto scan size massimo : 100 micron possibilità di operare anche in tapping TM  modulo phase extender e punte per microscopia a forza magnetica testa per microscopia a effetto tunnel

 Strumentazione per preparative:

• SPUTTER COATER   Edwards S150

• ION BEAM    Gatan 691

• CRITICAL POINT DRYER  Balzers CPD 030

• CARBON EVAPORATOR  Emitech K950

• ULTRAMICROTOMO Leica Reichert Ultracut S

• ULTRAMICROTOMO Reichert OmU3

• MICROSCOPIO OTTICO Nikon E800:

    - Epi-fluorescence attachment

    - DS Camera Control

• STEREOMICROSCOPIO Zeiss Stemi 2000

• TAGLIALAME Leica EM KMR2

• COLORATORE LKB 2168 Ultrostainer