Strumenti *

last modified Oct 02, 2009 09:41 AM

SEM

Microscopio Elettronico a Scansione

SEM Zeiss Evo 40

  • sorgente : LaB6
  • tensione di accelerazione massima : 30kV
  • rivelatore di elettroni emessi in presenza di gas
  • spettrometro a dispersione di energia ( EDS ) per microanalisi a raggi X
  • possibilità di operare sia convezionalmente in alto vuoto che a pressione variabile ( SEM XVP ); pressione massima 6 torr
TEM

Microscopio Elettronico a Trasmissione

TEM Hitachi H800

  • sorgente al tungsteno
  • tensione di accelerazione fino a 200 kV
  • porta-campioni sia a tilt singolo che a doppio tilt
  • immagini su lastra fotografica
TEM2

Microscopio Elettronico a Trasmissione

TEM Zeiss EM 910

  • sorgente al tungsteno
  • tensione di accelerazione fino a 120 kV
  • illuminazione Köhler, sistema AIS
AFM

 

Microscopio a Forza Atomica

AFM.

  • punte di nitruro di silicio ricoperto d'oro per operare in contatto
  • scan size massimo : 100 micron
  • possibilità di operare anche in tapping TM
  •  modulo phase extender e punte per microscopia a forza magnetica
  • testa per microscopia a effetto tunnel

 

 Strumentazione per preparative:

 

  • SPUTTER COATER   Edwards S150

  • ION BEAM    Gatan 691

  • CRITICAL POINT DRYER  Balzers CPD 030

  • CARBON EVAPORATOR  Emitech K950

  • ULTRAMICROTOMO Leica Reichert Ultracut S

  • ULTRAMICROTOMO Reichert OmU3

  • MICROSCOPIO OTTICO Nikon E800:

    - Epi-fluorescence attachment

    - DS Camera Control

  • STEREOMICROSCOPIO Zeiss Stemi 2000

  • TAGLIALAME Leica EM KMR2

  • COLORATORE LKB 2168 Ultrostainer