AFM *
last modified
Oct 02, 2009 09:41 AM
Microscopio a Forza Atomica
Nanoscope III Digital Instruments
Possibilità di operare sia in contatto che in tapping mode ottenendo immagini topografiche con risoluzione dell'ordine dei nm. Oltre alle superfici dei materiali ( vetri, film su substrato, metalli, ceramiche, polimeri ) il sistema consente anche l'osservazione di campioni biologici essicati. Il software in dotazione permette vari tipi di elaborazioni di immagine, ad esempio l'analisi di rugosità e la determinazione delle dimensioni dei particolari in direzione verticale al piano del campione ( section analysis ).
